名前 | 装置一般名称 | メーカー | 型番 | 設置場所 |
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GeneSpring GX | GeneSpring GX | 米国アジレントテクノロジーズ社 | GeneSpring GX | 発生研/712室 | 詳細 | |
Imaris | Imaris | カールツァイス マイクロイメージング社 | Imaris | 発生研/712室 | 詳細 | |
組織切片自動作成装置 AS-200H | 組織切片自動作成装置 AS-200H | 倉敷紡績(株) | AS-200H | 共用棟/実験室1 | 詳細 | |
IP単結晶自動X線構造解析装置 | IP単結晶自動X線構造解析装置 | (株)リガク | R-AXIS/RAPID-S | 機器分析施設105号室 | 詳細 | |
タンパク質用X線解析装置 | タンパク質用X線解析装置 | (株)リガク | R-AXIS VII/Bio SAXS | 機器分析施設105号室 | 詳細 | |
試料水平型高速X線回折装置 | 試料水平型高速X線回折装置 | (株)リガク | ultimaIV-Protectus/DteX-U | 機器分析施設105号室 | 詳細 | |
核磁気共鳴装置 | 核磁気共鳴装置 | ブルカー・バイオスピン(株) | AVANCEI600 | 機器分析施設106号室 | 詳細 | |
核磁気共鳴装置 | 核磁気共鳴装置 | 日本電子(株) | JNM-ECX400 | 機器分析施設106号室 | 詳細 | |
原子吸光分光分析装置 | 原子吸光分光分析装置 | (株)パーキンエルマー | PinAAcle 900Z | 機器分析施設301号室 | 詳細 | |
電子スピン共鳴装置 | 電子スピン共鳴装置 | 日本電子(株) | JES-X320 | 機器分析施設301号室 | 詳細 | |
ESI-イオントラップ型質量分析装置 | ESI-イオントラップ型質量分析装置 | ブルカー・ダルトニクス(株) | amaZon speed | 機器分析施設303号室 | 詳細 | |
タンパク質質量分析装置 | タンパク質質量分析装置 | ブルカー・ダルトニクス(株) | UltrafleXtreme | 機器分析施設305号室 | 詳細 | |
示差走査熱量測定装置 | 示差走査熱量測定装置 | TA Instruments | DSC Auto Q20 | 機器分析施設306号室 | 詳細 | |
示差走査熱量計マイクロカロリーメーター | 示差走査熱量計マイクロカロリーメーター | TA Instruments | NANO DSC | 機器分析施設306号室 | 詳細 | |
等温滴定熱量計 | 等温滴定熱量計 | TA Instruments | Nano ITC | 機器分析施設303号室 | 詳細 | |
蛍光分光光度計 | 蛍光分光光度計 | (株)日立ハイテクサイエンス | F-4500 | 機器分析施設309号室 | 詳細 | |
旋光計 | 旋光計 | 日本分光(株) | DIP-1000 | 機器分析施設309号室 | 詳細 | |
フーリエ変換近赤外/中赤外分光分析装置 | フーリエ変換近赤外/中赤外分光分析装置 | (株)パーキンエルマー | Frontier | 機器分析施設309号室 | 詳細 | |
円二色性分散計 | 円二色性分散計 | 日本分光(株) | J-820 | 機器分析施設309号室 | 詳細 | |
ESI-Qq-TOF型質量分析装置 | ESI-Qq-TOF型質量分析装置 | ブルカー・ダルトニクス(株) | impact II KUP | 機器分析施設304号室 | 詳細 |