名前
走査型電子顕微鏡
装置一般名称
走査型電子顕微鏡(SEM-EBSD)
メーカー
日本電子株式会社
型番
JSM-6390LV
センター名
i-REC
設置場所
工学部附属工学研究機器センター・4階・408室
特徴・性能
倍率：×5～300,000
試料寸法：最大5インチ径
特徴：高真空・低真空両モード測定が可能、反射電子検出器搭載
　　　低真空モードでは非伝導性試料でも無蒸着で観察可能
　　　※同室内に蒸着装置、凍結乾燥装置が付属
成果
 
管理者
庄﨑　雅裕
内線
3518
問い合わせ先
erec@tech.kumamoto-u.ac.jp
学内使用料金
1,000円/時間（真空蒸着装置、凍結乾燥機の使用料含む）
学外使用料金
応相談　※担当者までお問い合わせください。
予約
※予約は学内からのみ可
※予約は別サイトへ移行します